半导体&芯片制程
晶圆金属互连层。膜层:Al、Cu、W、Ti、TiN、Ta、TaN;设备:PVD 磁控溅射、ALD、CVD;作用:芯片内部导线、阻挡层、粘附层,实现低阻互连。
栅极与介质膜。膜层:HfO₂、SiO₂、Si₃N₄、Al₂O₃;设备:ALD、PECVD、LPCVD;作用:栅介质、隔离、钝化,提升器件稳定性。
钝化与保护层。膜层:SiO₂、SiNₓ、聚酰亚胺;设备:PECVD、溅射;作用:防潮、绝缘、抗划伤、抗离子迁移。
凸点 / 凸块金属层(Bumping)。膜层:NiV、Cu、TiW、Au;设备:溅射、蒸发;作用:晶圆凸点底部金属层(UBM),用于倒装芯片封装
栅极与介质膜。膜层:HfO₂、SiO₂、Si₃N₄、Al₂O₃;设备:ALD、PECVD、LPCVD;作用:栅介质、隔离、钝化,提升器件稳定性。
钝化与保护层。膜层:SiO₂、SiNₓ、聚酰亚胺;设备:PECVD、溅射;作用:防潮、绝缘、抗划伤、抗离子迁移。
凸点 / 凸块金属层(Bumping)。膜层:NiV、Cu、TiW、Au;设备:溅射、蒸发;作用:晶圆凸点底部金属层(UBM),用于倒装芯片封装
- 2025-12-05
- 2025-11-10
- 2025-09-29